Mükemmel denetim performansı ve güvenilir otomasyonu sayesinde, denetim sistemi iyi bir üne kavuştu ve küresel müşterilerin ilk tercihi oldu.

Yüksek Hızlı Wafer Denetim Sistemi, wafer üretiminde dilimleme ve temizleme işlemlerini takiben hat sonu kalite denetimi için özel olarak tasarlanmıştır ve wafer sevkiyatından önce nihai kalite kontrolü görevi görür.
Temel işlev: Waferlerin kapsamlı denetimini ve sınıflandırılmasını gerçekleştirerek, yalnızca nitelikli waferlerin hücre üretim sürecine girmesini sağlar ve böylece daha rekabetçi fiyatlarla daha iyi kalite elde edilmesini sağlar.
Wafer denetim sistemi tarafından üretilen veriler, süreç optimizasyonu ve verim iyileştirmesi için önceki dilimleme işlemine de iletilebilir.
Teknolojik avantajlar:
a) Büyük boyutlu (182-230 mm tam ve yarım kesim) ve daha ince waferlere (100-240 μm) yönelik eğilimi karşılayan, yüksek verimli güneş pillerinin seri üretimi için temel ekipman;
b) Yapay zeka tabanlı inceleme: Geleneksel algoritmalar ve derin öğrenmenin birleşimi, mikro çatlak (uzunluk ≥ 0,5 mm), testere izi (±3 µm) ve TTV (±2 µm) gibi karmaşık kusurları %98'in üzerinde bir tespit oranıyla daha doğru ve istikrarlı bir şekilde tanımlamasını sağlar;
c) Yüksek kararlılık ve düşük kırılma oranı: Bernoulli tipi tahribatsız transfer teknolojisinden yararlanarak, yüksek hızda çalışırken bile kırılma oranını son derece düşük bir seviyede (örneğin, < %0,1) tutarak sürekli üretim ve istikrar sağlar.